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　　隨著現代化工業的發展，二維激光掃描儀作為高精度、高響應的非接觸測量儀器，在光電技術檢測領域得到了廣泛的應用。其采用的激光三角法原理在理論上已相當成熟，但在實際應用中還有一定的困難。由于三角法建立在理想成像的基礎之上，所以三角法能否準確實現還要依賴于所采用的光學系統。

　　二維激光掃描儀利用激光技術進行反饋信號的傳感器，二維激光掃描儀組成部分由激光發射器、檢測器及測量模塊，二維激光掃描儀利用激光的高方向性、單色和高亮度的優點，實現了速度快、無接觸、精度高、測量距離長、抗干擾等特點，是一款新型的測距離傳感器產品。

　　二維激光掃描儀的原理：傳感器的工作是基于光學三角測量原理。

　　半導體激光發生器發出的光，經透鏡形成X平面光幕，并在物體上形成一條輪廓線，鏡片收集被物體反射回來的光并將其投影到一個二維CMOS數組,這樣形成的目標物體剖面圖形被信號處理器分析處理，輪廓線的長度用X軸計量，輪廓線的高低用Z軸計量。

　　二維激光掃描儀常用與尺寸測量、長度、震動、速度等，包括無人機測到地面距離、掃地機器人位置定位、工業機器人機械臂位置定位、高速運動中的車輛識別、移動物體的檢測識別定位等。

　　二維激光掃描儀根據入射光角度的不同可分為直入射式和斜入射式兩種，本設計采用的是直入射式，其光路結構如圖1所示。整套光路可以分為兩部分，即整形系統和接收系統。左邊部分是光束整形系統，其作用是將激光器發出的光束匯聚在工作范圍內，使匯聚的光斑盡量小而均勻。光源為半導體激光器(LD)，它經整形系統在測量范圍50±10mm內形成均勻的光斑。后面則是光束接收系統，它將物體表面的漫反射光匯聚到光敏探測器上，使其成像。