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光譜共焦傳感器兩種測量模式介紹
更新時間:2018-06-25   點擊次數:1853次
光譜共焦傳感器兩種測量模式介紹

  光譜共焦傳感器外部掃描有一個重要的特性,實際上它是一個點傳感器,換句話說,在給定時刻傳感器測量的是一個位于其光軸上的單點。為了得到一個曲線,或者測量整個表面,必須用一些外部掃描設備做輔助,沿著一個軸或者兩個軸掃面樣品。一般情況掃描設備是機動的;在一些情況下它還包含編碼器來確定任意時刻樣品的位置。在一些應用中傳感器和外部掃描設備的同步性是一個重要的問題。CCS-100可能同時作為“從”和“主”。

  光譜共焦傳感器同步傳感器通常需要同步傳感器與一個外加設備,比如一個編碼器,運動控制器或者一個能表明在傳送帶上運動物體路徑的光電管。當與傳感器同步的外部設備是一個數字編碼時,這個任務就很簡單,因為它是由CCS-100自動進行同步的。

  厚度模式是一個附加的測量模式,專門用來測量透明樣品的厚度。這種模式下傳感器同時測量透明樣品兩面的位置,然后通過兩個位置的不同計算出厚度。測量厚度比測量位移更難,度也下降。厚底測量也受一些限制。為了獲得在該模式下的計量性能,應該執行一個特殊的叫做“厚度校準”的程序。厚度校準是用戶來執行的。這個過程需要一個厚度標準。
  測量數據
  在樣品的每一個點傳感器都要同時測量幾個數據。 在位移測量模式下測量數據有:
  √被測樣品點的距離
  √反回的散射光束的光強
  在厚度模式下測量數據有:
  √樣品個面的距離和光強
  √樣品第二面的距離和光強
  √厚度

  光譜共焦傳感器位移模式是專門用來測試樣品表面點的高度的。位移數據使用30比特的數字分辨率傳輸的。當測量一個不透明樣品(金屬,紙,陶瓷……)剖面高度時,使用位移模式就很直觀簡單。
  當測量薄的透明樣品或者有涂層樣品時,就會發生傳感器同時得到兩個信號的情況:涂層表面反射一個信號,底層反射第二個信號。傳感器默認選擇強的信號并且忽略其它收到的信號,不管其譜峰的相對位置。在一些應用中這種處理不是佳:在上面的例子中,底層材料的反射率一般比涂層的反射率強,而我們可能需要測量的是涂層表面。主題會給出峰模式的在這種應用中的解決方法。

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